「光干渉を用いて、ナノメートル単位の分解能を持つ非接触表面形状の自動測定システムを
ご提供いたします。」
NanoViewは高精度な光学系により、高精度かつ高速な三次元測定機能を実現しております。
三次元形状測定には光干渉(白色光走査型干渉方式と位相シフト干渉方式)を用いることにより、
検査対象の高さ、幅、表面粗さなどを評価・解析することができます。
詳細は、検査装置ページを参照下さい。
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